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快速溫變試驗箱技術規(guī)格:
型 號 | SES-225 | SES-408 | SES-800 | SES-1000 | SES-1500 | SES-2000 |
內(nèi)箱尺寸 (W x D x H cm) | 50×60×75 | 60×80×85 | 80×100×100 | 100×100×100 | 100×100×150 | 100×110×180 |
外箱尺寸( W x D x H cm) | 115×125×160 | 125×145×170 | 145×195×185 | 155×225×195 | 250×125×190 | 260×135×250 |
內(nèi)箱容積 | 225L | 408L | 800L | 1000L | 1500L | 2000L |
承載重量 | 20kg | 30kg | 30kg | 50kg | 75 | 100 |
溫度速率 | 5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min。 | |||||
溫度范圍 | -70℃-180℃ | |||||
溫度波動度 | ±0.5℃ | |||||
溫度偏差 | ±2℃ | |||||
溫變范圍 | -55℃~+125℃(高溫至少±85℃以上) | |||||
濕度范圍 | 20%~98% | |||||
濕度偏差 | -3~+2%R.H(75%R.H.以上),±5%R.H.(75%R.H以下) | |||||
備注 | 以上指標是在空載,環(huán)境溫度20℃±2℃下測試 | |||||
腳輪 | 4個(外形尺寸不含腳輪)腳輪增高50~120mm | |||||
觀察窗 | 帶加熱裝置防止冷凝和結霜 | |||||
測試孔 | φ100mm(2個) | |||||
照明燈 | 35W/12V | |||||
節(jié)能調(diào)節(jié)方式 | 冷端PID調(diào)節(jié)方式(即加熱不制冷,制冷不加熱),比平衡調(diào)溫方式節(jié)能40% | |||||
加熱方式 | 電加熱(3重超溫保護) | |||||
制冷機 | 德國*品牌壓縮機 | |||||
制冷劑 | 環(huán)保制冷劑R404a / R23(臭氧耗損指數(shù)均為0) | |||||
冷卻方式 | 水冷(水溫7℃~28℃,水壓0.1~0.3Mpa,以便確保降溫性能 | |||||
控制器 | 7寸彩色觸摸屏控制器 | |||||
運行方式 | 程序運行+恒定運行 | |||||
程序容量 | 200×100可循環(huán)跳步、保持、連接 | |||||
傳感器 | PT100 | |||||
通訊功能 | RS485 標配USB | |||||
曲線記錄功能 | 觸摸屏自動記錄 | |||||
電源 | 380V±10%/50HZ,三相五線(3P+N+G) |
可靠性測試概述
可靠性測試是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評價產(chǎn)品在實際使用、運輸和儲存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機理。通過使用各種環(huán)境試驗設備模擬氣候環(huán)境中的高溫、低溫、高溫高濕以及溫度變化等情況,加速反應產(chǎn)品在使用環(huán)境中的狀況,來驗證其是否達到在研發(fā)、設計、制造中預期的質(zhì)量目標,從而對產(chǎn)品整體進行評估,以確定產(chǎn)品可靠性壽命。
可靠性測試分類
軟件可靠性測試
軟件可靠性是軟件系統(tǒng)在規(guī)定的時間內(nèi)以及規(guī)定的環(huán)境條件下,完成規(guī)定功能的能力。一般情況下,只能通過對軟件系統(tǒng)進行測試來度量其可靠性。
硬件可靠性測試
硬件可靠性測試也稱產(chǎn)品的可靠性評估,產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設計、應用過程中,不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機械環(huán)境的影響,而仍需要能夠正常工作,這就需要以試驗設備對其進行驗證,這個驗證基本分為研發(fā)試驗、試產(chǎn)試驗、量產(chǎn)抽檢三個部分??煽啃栽囼灠ǎ豪匣囼?、溫濕度試驗、氣體腐蝕試驗、機械振動試驗、機械沖擊試驗、碰撞試驗和跌落試驗、防塵防水試驗以及包裝壓力試驗等多項環(huán)境可靠性試驗。
壽命測試屬于可靠性測試
可靠性試驗是對產(chǎn)品進行可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段。試驗結果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達到指標要求提供依據(jù)。
根據(jù)可靠性統(tǒng)計試驗所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗??煽啃詼y定試驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗,通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则炞C試驗是用來驗證設備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗,一般將可靠性鑒定和驗收試驗統(tǒng)稱為可靠性驗證試驗。
(1)以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗;
(2)以試驗項目劃分,可分為環(huán)境試驗、壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗;
(3)以試驗目的來劃分,則可分為篩選試驗、鑒定試驗和驗收試驗;
(4)以試驗性質(zhì)來劃分,也可分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類;
(5)但通常慣用的分類法,是把它歸納為五大類:環(huán)境試驗、壽命試驗、篩選試驗、現(xiàn)場使用試驗。
壽命試驗又細分成不同的分類(見下圖):
壽命試驗在可靠性試驗中作用
壽命試驗是可靠性試驗中The most important, the most basic的內(nèi)容之一。它是將樣品放在特走的試驗條件下,測量其失效(損耗)的數(shù)量隨時間的分布情況。因為失效是按先后次序出現(xiàn)的,所以可利用次序統(tǒng)計量理論來分析壽命試驗數(shù)據(jù),從而可以確定產(chǎn)品的壽命特征、失效分布規(guī)律,計算產(chǎn)品的失效率和平均壽命等可靠性指標。此外,還可以從中確定產(chǎn)品合理的可靠性篩選工藝及條件,進一步改進保證產(chǎn)品質(zhì)量的依據(jù)。
有效的壽命測試項目
高加速壽命試驗(HALT)和加速壽命試驗(ALT)是產(chǎn)品可靠性設計中運用的Most of all效的兩種可靠性試驗技術。高加速壽命試驗適合用于發(fā)現(xiàn)設計缺陷,確定失效機理,描述產(chǎn)品裕度。當主要失效機理不是由于耗損原因引起時,It's better用高加速壽命試驗。而加速壽命試驗適用于描述由磨損造成的失效機理,通常用來檢驗機構在超出用戶預期和超出擔保期的情況下產(chǎn)生的失效情況。
在多數(shù)情況下,這兩種方法It's better結合起來使用。因為每種方法適用于揭示不同類型的失效機理。兩種方法的適當結合,為產(chǎn)品可靠性設計提供了一套完整全面的試驗手段。
高加速壽命試驗(HALT)是由美國Hobbs工程公司總裁GreggKHobbs博士首先提出來的。從90年代開始,HALT獲得推廣應用。HALT的Max特點是時間上的壓縮,即在短短的幾天內(nèi)模擬一個產(chǎn)品的整個壽命期間可能遇到的情況。
壽命試驗相關標準
GB 2689.1-81恒定應力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則
GB 2689.2-81壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法
GB 2689.3-81壽命試驗和加速壽命試驗的簡單線性無偏估計法
GB 2689.4-81壽命試驗和加速壽命試驗的It's better線性無偏估計法