插拔力測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-13

目的：驗(yàn)證連接器的插拔力是否符合產(chǎn)品規(guī)格要求

原理：將連接器按規(guī)定速率進(jìn)行*插合或拔出，記錄相應(yīng)的力值

測試設(shè)備：插拔力試驗(yàn)機(jī)SE-1220S

耐久性測試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-09

目的：評估反復(fù)插拔對連接器的影響，模擬實(shí)際使用中連接器的插拔狀況

原理：按照規(guī)定速率連續(xù)插拔連接器直至達(dá)到規(guī)定次數(shù)。

測試設(shè)備：插拔力試驗(yàn)機(jī)SE-1220S

絕緣電阻測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-21

目的：驗(yàn)證連接器的絕緣性能是否符合電路設(shè)計(jì)的要求或經(jīng)受高溫，潮濕等環(huán)境應(yīng)力時(shí)，其阻值是否符合有關(guān)技術(shù)條件的規(guī)定。

原理：在連接器的絕緣部分施加電壓，從而使絕緣部分的表面或內(nèi)部產(chǎn)生漏電流而呈現(xiàn)出來的電阻值。

耐電壓測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-20

目的：驗(yàn)證連接器在額定電壓下是否能安全工作，能否耐受過電位的能力， 從而評定連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合適 原理：在連接器接觸件與接觸件之間，接觸件與外殼之間施加規(guī)定電壓并保持規(guī)定時(shí)間，觀察樣品是否有擊穿或放電現(xiàn)象。

 接觸電阻測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-06/EIA-364-23

目的：驗(yàn)證電流流經(jīng)接觸件的接觸表面時(shí)產(chǎn)生的電阻值

原理：通過對連接器通規(guī)定電流，測量連接器兩端電壓降從而得出電阻值

振動測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-28

目的：驗(yàn)證振動對電連接器及其組件性能的影響

振動類型：隨機(jī)振動，正弦振動

機(jī)械沖擊測試參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-27

目的：驗(yàn)證連接器及其組件耐沖擊的能力或評定其結(jié)構(gòu)是否牢固

測試波形：辦正弦波，方波      

冷熱沖擊測試 

測試設(shè)備：冷熱沖擊試驗(yàn)箱SET-B5

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-32

目的：評估連接器在急速的大溫差變化下，對于其功能品質(zhì)的影響

溫濕度組合循環(huán)測試

測試設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱/高低溫濕熱試驗(yàn)箱SEH-1000CS

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-31

目的：評估連接器在經(jīng)過高溫高濕環(huán)境儲存后對連接器性能的影響

高溫測試

測試設(shè)備高溫試驗(yàn)箱參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-17

目的：評估連接器暴露在高溫環(huán)境中于規(guī)定時(shí)間后端子和絕緣體性能是否發(fā)生變化

鹽霧測試

測試設(shè)備鹽霧試驗(yàn)機(jī)SE-952B

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-26

目的：評估連接器，端子，鍍層耐鹽霧腐蝕能力

混合氣體腐蝕測試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-65

目的：評估連接器暴露在不同濃度混合氣體中的耐腐蝕能力及對其性能的影響

線材搖擺測試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-41

目的：評估連接器經(jīng)受反復(fù)來回應(yīng)力的能力以及評估此過程中的電連續(xù)性

溫升測試

參考標(biāo)準(zhǔn)：EIA-364-70

目的：評估當(dāng)端子通額定電流時(shí)，端子的溫升是否超過規(guī)定值